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LSV-NG 雷射震動量測分析系統
1. 高精度、非接觸振動和長度測量
2. 可選用定焦式或變焦式機種,工件表面粗度不受限
3. 頻率範圍內的位移測量0–5 MHz
4. 可以通過反射微細雷射光點進行測量
5. 視窗介面振動測量軟體含光譜分析的 FFT 分析軟體
NA 雷射顯微震動量測分析系統
1. 可測量頻率範圍 : 0-5 MHz
2. 微型物體顯微鏡的高精度非接觸振動測量
3. 特定於應用程式的整合
4. 可測振動光譜及共振頻率等
5. 用於光譜分析的 FFT 軟體
1. 高精度、非接觸振動和長度測量
2. 可選用定焦式或變焦式機種,工件表面粗度不受限
3. 頻率範圍內的位移測量0–5 MHz
4. 可以通過反射微細雷射光點進行測量
5. 視窗介面振動測量軟體含光譜分析的 FFT 分析軟體
NA 雷射顯微震動量測分析系統
1. 可測量頻率範圍 : 0-5 MHz
2. 微型物體顯微鏡的高精度非接觸振動測量
3. 特定於應用程式的整合
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